Acest site necesită browser-ul să fie activat JavaScript.
Vă rugăm să activați JavaScript și să reîncărcați această pagină.
Site-ul necesită browser-ul pentru a activa cookie-urile pentru a se autentifica.
Vă rugăm să activați cookie-urile și reîncărcați această pagină.
***Conductive Atomic Force Microscopy. Applications in Nanomaterials, Hardback
la comenzi de peste 199 lei
Conform Termeni și condiții
Parteneriat cu producători autorizați
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
Am aprecia părerea ta! Evaluați acest produs
Nu există comentarii de la alți utilizatori.
